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| TT210數(shù)字式涂層測(cè)厚儀使用說(shuō)明書(shū) | 時(shí)代 TT210 數(shù)字式覆層測(cè)厚儀
使用說(shuō)明書(shū)
時(shí)代集團(tuán)公司
北京時(shí)代之峰科技有限公司
2
1 概述......................................................................................................................................................................................1
1.1 測(cè)量原理.............................................................................................................................................................................1
1.2 準(zhǔn)配置及可選件.................................................................................................................................................................2
1.2.1 標(biāo)準(zhǔn)配置 ......................................................................................................................................................................2
表 1-1 標(biāo)準(zhǔn)配置清單...........................................................................................................................................................2
1.2.2 可選件 ..........................................................................................................................................................................2
1.3 儀器各部分名稱(chēng)..................................................................................................................................................................3
1.3.1 儀器各部分名稱(chēng) ..........................................................................................................................................................3
1.4 技術(shù)參數(shù).............................................................................................................................................................................4
1.4.1 測(cè)量范圍及測(cè)量誤差（見(jiàn)附錄 1）............................................................................................................................4
1.4.2 使用環(huán)境 ......................................................................................................................................................................4
1.4.3 電源 ..............................................................................................................................................................................4
1.4.4 外型尺寸和重量 ..........................................................................................................................................................4
2 儀器的使用...................................................................................................................................................................4
2.1 基本測(cè)量步驟......................................................................................................................................................................4
2.2 各項(xiàng)功能及操作方法..........................................................................................................................................................5
2.2.1 測(cè)量方式（單次測(cè)量⇔連續(xù)測(cè)量）...........................................................................................................................5
2.2.2 工作方式（直接方式⇔ 成組方式）..........................................................................................................................5
2.2.3 測(cè)頭選擇 ......................................................................................................................................................................6
2.2.4 存貯 .............................................................................................................................................................................6
2.2.5 刪除 ..............................................................................................................................................................................6
2.2.6 設(shè)置限界.....................................................................................................................................................................7
2.2.7 打印 ..............................................................................................................................................................................7
2.2.8 與 PC 機(jī)通訊................................................................................................................................................................8
2.2.9 單位制式轉(zhuǎn)換（米制<=>英制）................................................................................................................................8
2.2.10 背光設(shè)置 ....................................................................................................................................................................8
2.2.11 在線(xiàn)統(tǒng)計(jì)值顯示.........................................................................................................................................................9
2.2.12 操作一覽表 ................................................................................................................................................................9
2.2.13 關(guān)于測(cè)量和誤差的說(shuō)明.............................................................................................................................................9
3 儀器的校準(zhǔn)...................................................................................................................................................................9
3.1 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片（包括箔和基體）.................................................................................................................10
3.2 基體 ...................................................................................................................................................................................10
3.3 校準(zhǔn)方法 ...........................................................................................................................................................................10
3.3.1 零點(diǎn)校準(zhǔn) ....................................................................................................................................................................10
3.3.2 二點(diǎn)校準(zhǔn) ....................................................................................................................................................................10
3.3.2.1 一試片法................................................................................................................................................................................. 10
3.3.2.2 二試片法................................................................................................................................................................................. 11
3.3.2.3 在噴沙表面上校準(zhǔn) ................................................................................................................................................................. 11
3
3.3.7.1 銅上鍍鉻層的校準(zhǔn)方法 ......................................................................................................................................................... 11
3.3.3 修改組中的校準(zhǔn)值 12
3.4 基本校準(zhǔn)的修正................................................................................................................................................................12
4 影響測(cè)量精度的因素.......................................................................................................................................12
4.1 影響因素相關(guān)表................................................................................................................................................................12
4.2 影響因素的有關(guān)說(shuō)明........................................................................................................................................................13
4.3 使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定............................................................................................................................................14
5 保養(yǎng)與維修.................................................................................................................................................................14
5.1 環(huán)境要求 ...........................................................................................................................................................................14
5.2 更換電池 ...........................................................................................................................................................................14
5.3 故障排除 ...........................................................................................................................................................................14
6 用戶(hù)須知...................................................................................................................................................................................16
7 附表...........................................................................................................................................................................................17
17
1
1 概述
本儀器是磁性、渦流一體的便攜式覆層測(cè)厚儀，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既
可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。
是材料保護(hù)專(zhuān)業(yè)必備的儀器。
本儀器符合以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法
GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法
JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x
JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》
JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》
特點(diǎn)：
采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬
基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度；
具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)；
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差
（S．DEV）；
可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
具有存貯功能：可存貯 500 個(gè)測(cè)量值；
具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新
的測(cè)量；
可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析；
具有打印功能：可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖；
具有與 PC 機(jī)通訊的功能：可將測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值傳輸至 PC 機(jī)，以便對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理；
具有電源欠壓指示功能；
操作過(guò)程有蜂鳴聲提示；
具有錯(cuò)誤提示功能，通過(guò)屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；
設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；
1.1 測(cè)量原理
本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非
磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋
層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、陽(yáng)極氧化膜等)。
a) 磁性法(F 型測(cè)頭)
當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變
化，通過(guò)測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。
b) 渦流法(N 型測(cè)頭)
利用高頻交變電流在線(xiàn)圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)頭
2
中的線(xiàn)圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔茫ㄟ^(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。
圖 1-1 磁性法基本工作原理 圖 1-2 渦流法基本工作原理
1.2 準(zhǔn)配置及可選件
1.2.1 標(biāo)準(zhǔn)配置
表 1-1 標(biāo)準(zhǔn)配置清單
名 稱(chēng) 數(shù) 量
TT210 主機(jī) 1 臺(tái)
標(biāo)準(zhǔn)片 5 片
基體 2 塊
AAA 型 1.5V(7 號(hào))干電池 2 節(jié)
儀器包 1 個(gè)
產(chǎn)品包裝箱 1 個(gè)
使用說(shuō)明書(shū) 1 本
1.2.2 可選件
表 1-2 可選件清單
名 稱(chēng) 數(shù) 量
TA220S 打印機(jī) 1 臺(tái)
通訊電纜 1 條
通訊軟件 1 個(gè)
3
1.3 儀器各部分名稱(chēng)
1.3.1 儀器各部分名稱(chēng)
圖 1-2 儀器各部分名稱(chēng)
1.通訊接口 2. 顯示屏 3. 鍵盤(pán) 4. 測(cè)頭 5. 電池倉(cāng)
屏幕顯示
4 3 2 1 9
5
8 8
6 7 7
圖 1-3 全屏幕液晶顯示
1.低電壓指標(biāo) 2.打印指示 3.設(shè)限界指示 4.工作方式指示 5.數(shù)據(jù)區(qū)
6. 菜單區(qū) 7.測(cè)量單位 8.測(cè)頭類(lèi)型指標(biāo) 9.通訊連接指示
1、通訊接口
2、顯示屏
3、鍵盤(pán)
4、測(cè)頭
5、電池倉(cāng)
4
1.4 技術(shù)參數(shù)
1.4.1 測(cè)量范圍及測(cè)量誤差（見(jiàn)附錄 1）
1.4.2 使用環(huán)境
溫度：0℃～40℃
濕度：20%RH～90%RH
無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境
1.4.3 電源
二節(jié) AAA 型 1.5V(7 號(hào))干電池
1.4.4 外型尺寸和重量
外形尺寸：110mm×50 mm×23 mm
重量：約 100g
2 儀器的使用
使用本儀器前，請(qǐng)務(wù)必仔細(xì)閱讀第 3 章(校準(zhǔn))和第 4 章(影響測(cè)量精度的因素)
2.1 基本測(cè)量步驟
a) 準(zhǔn)備好待測(cè)試件（參見(jiàn)第 4 章）；
b) 將測(cè)頭置于開(kāi)放空間，按一下“ON/OFF”鍵，開(kāi)機(jī)；
c) 檢查電池電壓；
說(shuō)明 1：有低壓指示出現(xiàn)，表示電池電壓已低落，應(yīng)立即更換電池；開(kāi)機(jī)時(shí)若電池電壓不足則顯示低壓指示
約 1 秒鐘后自動(dòng)關(guān)機(jī)。
開(kāi)機(jī)時(shí)正常情況下，開(kāi)機(jī)后顯示上次關(guān)機(jī)前的測(cè)量值；如：
其中：“非-磁性” ------ N 型測(cè)頭
“直接” ------ 直接方式
“數(shù)字” -------- 上次關(guān)機(jī)前的最后一次測(cè)量值。
d) 是否需要校準(zhǔn)儀器，如果需要，選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法進(jìn)行（參見(jiàn)第 4 章）；
e) 測(cè)量
迅速將測(cè)頭與測(cè)試面垂直地接觸并輕壓測(cè)頭定位套，隨著一聲?shū)Q響，屏幕顯示測(cè)量值，提起測(cè)頭可進(jìn)
行下次測(cè)量；
f) 關(guān)機(jī)
5
在無(wú)任何操作的情況下，大約 2∼3min 后儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)。按一下“ON/OFF”鍵，立即關(guān)機(jī)。
說(shuō)明: 1. 如果在測(cè)量中測(cè)頭放置不穩(wěn)，顯示一個(gè)明顯的可疑值，可刪除該值；
2.重復(fù)測(cè)量三次或更多次后，可顯示五個(gè)統(tǒng)計(jì)量，即：平均值（MEAN）、
標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）、測(cè)量次數(shù)（NO.）、最大測(cè)量值（MAX）、最小測(cè)量值（MIN）。
2.2 各項(xiàng)功能及操作方法
2.2.1 測(cè)量方式（單次測(cè)量⇔連續(xù)測(cè)量）
本小節(jié)詳細(xì)地介紹了本機(jī)的各種功能及其操作方法。
單次測(cè)量──測(cè)頭每接觸被測(cè)件 1 次，隨著一聲?shū)Q響，顯示一個(gè)測(cè)量結(jié)果；
連續(xù)測(cè)量──不提起測(cè)頭動(dòng)態(tài)測(cè)量，測(cè)量過(guò)程中不伴鳴響，屏幕閃顯測(cè)量結(jié)果；
兩種方式的轉(zhuǎn)換方法：
a) 按“MENU”鍵，然后再按“↑”或“↓”鍵，直到顯示“選項(xiàng)”；
b) 按“MENU”鍵，再按“↑”或“↓”鍵，直到顯示“測(cè)量方式”；
c) 按“MENU”鍵，再按“↑”或“↓”鍵選擇單次測(cè)量或連續(xù)測(cè)量；
d) 按“ESC”鍵退出。
2.2.2 工作方式（直接方式⇔ 成組方式）
直接方式: 此方式用于隨意性測(cè)量，測(cè)量值暫存在內(nèi)存單元（共有 100 個(gè)存貯單元），當(dāng)存滿(mǎn) 100
個(gè)存貯單元時(shí)，新的測(cè)量值將替掉舊的測(cè)量值,就是說(shuō)總是最新的 100 個(gè)測(cè)量值參與統(tǒng)計(jì)計(jì)算。
成組方式: 此方式便于用戶(hù)分批記錄所測(cè)試的數(shù)據(jù)，一組最多存 100 個(gè)數(shù)值，總共五組，可存 500
個(gè)數(shù)值。每組當(dāng)存滿(mǎn) 100 個(gè)數(shù)值時(shí)，屏幕將顯示“存儲(chǔ)器滿(mǎn)”，此時(shí)，仍可進(jìn)行測(cè)量，但是測(cè)量值
只顯示不存儲(chǔ)，也不參與統(tǒng)計(jì)計(jì)算。需要時(shí)，可刪除該組數(shù)據(jù)，再進(jìn)行新的測(cè)量。每組內(nèi)設(shè)有一個(gè)
校準(zhǔn)值，即該組下各個(gè)數(shù)據(jù)都是基于這個(gè)校準(zhǔn)值測(cè)得的。每組內(nèi)可設(shè)限界，即可對(duì)該組中的測(cè)量結(jié)
果進(jìn)行超限報(bào)警。成組方式下，每個(gè)測(cè)量值都自動(dòng)進(jìn)入統(tǒng)計(jì)程序參與統(tǒng)計(jì)計(jì)算。因?yàn)槌山M方式下，
可存貯幾套基于不同校準(zhǔn)值的測(cè)量數(shù)據(jù)，因此該方式特別適合于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量。
注意：所有測(cè)量值都將自動(dòng)輸入統(tǒng)計(jì)。
兩種方式的轉(zhuǎn)換方法：
a) 儀器開(kāi)機(jī)后，自動(dòng)進(jìn)入直接工作方式，工作方式區(qū)顯示“直接”。按“MENU”鍵，然后再按
“↑”或“↓”鍵，直到顯示“選項(xiàng)”；
b) 按“MENU”鍵，再按“↑”或“↓”鍵，直到顯示“工作方式”；
c) 按“MENU”鍵，然后再按“↑”或“↓”鍵，選擇批組號(hào)，轉(zhuǎn)入成組方式；
d) 儀器進(jìn)入成組方式，工作方式顯示“批組”。
e) 在進(jìn)入“工作方式”后，選擇“直接方式”轉(zhuǎn)入直接方式。
說(shuō)明： “*” 表示該組中已有校準(zhǔn)值；
6
統(tǒng)計(jì)計(jì)算
本儀器對(duì)測(cè)量值自動(dòng)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理，它需要至少三個(gè)測(cè)量值來(lái)產(chǎn)生 5 個(gè)統(tǒng)計(jì)值：平均值（MEAN）、標(biāo)準(zhǔn)偏差
（S.DEV）、測(cè)試次數(shù)（No.）、最大測(cè)試值（MAX）、最小測(cè)試值（MIN）。
參加統(tǒng)計(jì)計(jì)算的測(cè)量值
⊙ 在直接方式下所有測(cè)量值（包括關(guān)機(jī)前的測(cè)量值）均參加統(tǒng)計(jì)計(jì)算。
注意：當(dāng)存滿(mǎn) 100 個(gè)數(shù)值時(shí)，新的測(cè)量值將替代上次的測(cè)量值。
⊙ 在成組方式下，參加統(tǒng)計(jì)計(jì)算的測(cè)量值僅限于本組內(nèi)的數(shù)據(jù)。
注意：每組當(dāng)存滿(mǎn) 100 個(gè)數(shù)值時(shí)，盡管測(cè)量能繼續(xù)，但不能修改統(tǒng)計(jì)值。需要時(shí)，可清除內(nèi)存單元， 再進(jìn)行新的測(cè)量；
顯示統(tǒng)計(jì)值
⊙在直接方式下：
a) 按“MENU”鍵，然后按“↑”或“↓”鍵，直到顯示“統(tǒng)計(jì)值”；
b) 按“MENU”鍵，進(jìn)入統(tǒng)計(jì)值顯示，再按“↑”或“↓”鍵，5 個(gè)統(tǒng)計(jì)值將依次顯示；
c) 按“ESC” 鍵，退出統(tǒng)計(jì)值顯示。
⊙在成組方式下，
a) 按“MENU”鍵，然后按“↑”或“↓”鍵，直到顯示“統(tǒng)計(jì)值”；
b) 按“MENU”鍵，進(jìn)入統(tǒng)計(jì)值顯示,再按“↑”或“↓”鍵，該組下的 5 個(gè)統(tǒng)計(jì)值將依次顯示。
d) 按“ESC” 鍵，退出統(tǒng)計(jì)值顯示。
2.2.3 測(cè)頭選擇
a) 按“MENU”鍵進(jìn)入功能設(shè)置，按“↓”或“↑”鍵直到出現(xiàn)“選項(xiàng)”提示符；
b) 按“MENU”鍵，再按“↓”或“↑”鍵直到顯示“選擇測(cè)頭”提示；
c) 按“MENU”鍵，再按“↓”或“↑”鍵可依次選擇“磁性”、“非磁性 ”、“自動(dòng)”；
d) 按“ESC”鍵退出。
2.2.4 存貯
成組方式下測(cè)量值自動(dòng)存入內(nèi)存單元，一組最多存 100 個(gè)數(shù)值，總共五組，可存 500 個(gè)數(shù)值。
2.2.5 刪除
⊙ 刪除最后一個(gè)測(cè)量值
a) 按“MENU”鍵，然后按“↑”或“↓”鍵，直到顯示“刪除”；
b) 按“MENU”鍵，進(jìn)入刪除選擇；
c) 按“↑”或“↓”鍵，選擇“當(dāng)前數(shù)據(jù)”；
d) 按“MENU”鍵，顯示刪除確認(rèn)提示，再按“MENU”鍵，直接方式下或成組方式下的最后一個(gè)測(cè)量值已被刪除。
7
⊙ 刪除直接方式或成組方式下當(dāng)前組的所有測(cè)量值
a) 按“MENU”鍵，然后按“↑”或“↓”鍵，直到顯示“刪除”；
b) 按“MENU”鍵，進(jìn)入刪除選擇；
c) 按“↑ ”或“↓”鍵，選擇“當(dāng)前組數(shù)據(jù)”；
d) 按“MENU”鍵，顯示刪除確認(rèn)提示，再按“MENU”鍵，當(dāng)前文件中的測(cè)量值已被刪除。
⊙ 刪除直接方式或成組方式下當(dāng)前組的所有測(cè)量值，統(tǒng)計(jì)值、兩點(diǎn)校準(zhǔn)值
a) 按“MENU”鍵，然后按“↑”鍵或“↓”鍵，直到顯示“刪除”；
b) 按“MENU”鍵，進(jìn)入刪除選擇；
c) 按“↑ ”或“↓”鍵，選擇“所有數(shù)據(jù)”；
d) 按“MENU”鍵，顯示刪除確認(rèn)提示，再按“MENU”鍵，所有測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、兩點(diǎn)校準(zhǔn)值已被刪除。
⊙ 在成組工作方式下刪除某組中的限界
a) 按“MENU”鍵，然后按“↑”或“↓”鍵，直到顯示“限界”；
b) 按“MENU”鍵，再按“↑ ”或“↓”鍵，選擇“刪除限界”；
c) 按“MENU”鍵，顯示刪除確認(rèn)提示，再按“MENU”鍵，限界值被刪除。
2.2.6 設(shè)置限界
a) 按“MENU”鍵，然后按“↓”或“↑”鍵，直到顯示“限界”；
b) 按“MENU”鍵，顯示“設(shè)置限界”；
c) 按“MENU”鍵，顯示“設(shè)置上限”，數(shù)據(jù)區(qū)顯示以前設(shè)置的上限，用“↓”、“↑”鍵設(shè)定新的上限值；
d) 按“MENU”鍵，顯示“設(shè)置下限”，數(shù)據(jù)區(qū)顯示以前設(shè)置的下限，用“↓”、“↑”鍵設(shè)定新的下限值；
提示: 1. 限界僅在成組方式下有效；
2. 限界以外的測(cè)試結(jié)果由蜂鳴聲報(bào)警；
3. 限界以外的測(cè)試結(jié)果與其它測(cè)試結(jié)果一起被存貯并進(jìn)行統(tǒng)計(jì)計(jì)算。
4.上限與下限的接近程度是有限的。在上限值為 200µm 以上時(shí)，上、下限最小接近程度為上限的 3%，
在上限值為 200µm 以下時(shí)，上、下限最小接近程度為 5µm。
2.2.7 打印
打印步驟：
a) 將 TT220S 打印機(jī)與主機(jī)用通訊電纜連接；
b) 按 ON/OFF 鍵打開(kāi)主機(jī)；
c) 將打印機(jī)設(shè)置為：波特率 9600、8 位數(shù)據(jù)、1 位起始位、1 位停止位、無(wú)校驗(yàn)；
d) 按“MENU”鍵進(jìn)入打印功能選擇，按“↓”或“↑”鍵選則打印內(nèi)容，打印內(nèi)容如下：
打印測(cè)量值————打印當(dāng)前工作方式下的所有測(cè)量值
打印統(tǒng)計(jì)值—————打印當(dāng)前工作方式下的五個(gè)統(tǒng)計(jì)值
打印所有值————在直接方式下，打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值；在批組方式下則打印該組方式
下的所有測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖
開(kāi)在線(xiàn)打印————打開(kāi)在線(xiàn)打印，即測(cè)量一個(gè)打印一個(gè)，屏幕顯示“打印”提示符
關(guān)閉在線(xiàn)打印————屏幕“打印”提示符消失，關(guān)閉在線(xiàn)打印功能
e) 直方圖：
-｜
| 40 80%
LO|--------------------
*****
M *********************
8
|
|
|
|
|
|
HI|---------------------
| 40 80%
LO:設(shè)置的下界
HI:設(shè)置的上界
M:平均值
縱坐標(biāo)表示測(cè)量值
橫坐標(biāo)表示測(cè)量值所占的百分比
注意: 1.在設(shè)置限界之后才能打印出直方圖;
2.2.8 與 PC 機(jī)通訊
與 PC 機(jī)通訊之前，按圖 2-2 所示，用本儀器附帶的通訊電纜，將儀器與 PC 機(jī)的串行接口連接好，
并在 PC 機(jī)上進(jìn)入本儀器的專(zhuān)用操作軟件 Data View。
圖 2-2 連接 PC 機(jī)
說(shuō)明 1：本儀器與 PC 機(jī)通訊，需使用時(shí)代 Data View 專(zhuān)用操作軟件。操作方法請(qǐng)閱讀軟件使用說(shuō)明書(shū)。
說(shuō)明 2：本儀器與 PC 機(jī)連通后，儀器屏幕上出現(xiàn) 提示圖標(biāo)，與 PC 機(jī)斷開(kāi) 此圖標(biāo)消失。
2.2.9 單位制式轉(zhuǎn)換（米制<=>英制）
a) 按“MENU”鍵進(jìn)入功能設(shè)置，按“↓”或“↑”鍵直到出現(xiàn)“選項(xiàng)”提示符；
b) 按“MENU”鍵，再按“↓”或“↑”鍵直到出現(xiàn)“單位：um”或“ 單位：mils”提示；
c) 按“MENU”鍵，可實(shí)現(xiàn) um（米制）和 mils（英制）轉(zhuǎn)換；
d) 按“ESC”鍵，退出單位制式轉(zhuǎn)換。
2.2.10 背光設(shè)置
a) 按“MENU”鍵進(jìn)入功能設(shè)置，按“↓”或“↑”鍵直到出現(xiàn)“選項(xiàng)”提示符；
b) 按“MENU”鍵，再按“↓”或“↑”鍵直到出現(xiàn)“背光：開(kāi)”或“背光：關(guān)”提示符；
c) 按“MENU”鍵，實(shí)現(xiàn)“背光：開(kāi)”（背光打開(kāi)）和 “背光：關(guān)”（背光關(guān)閉）的轉(zhuǎn)換；
d) 按“ESC”鍵退出設(shè)置。
說(shuō)明: 在開(kāi)機(jī)時(shí)按住“ESC”鍵可打開(kāi)背光
9
2.2.11 在線(xiàn)統(tǒng)計(jì)值顯示
a) 按“MENU”鍵進(jìn)入功能設(shè)置，按↓或↑鍵直到出現(xiàn)“選項(xiàng)”提示符；
b) 按“MENU”鍵，再按“↓”或“↑”鍵直到出現(xiàn)“在線(xiàn)統(tǒng)計(jì)值”提示符；
c) 按“MENU”鍵，進(jìn)入在線(xiàn)統(tǒng)計(jì)值設(shè)置；
d) 按“↓”或“↑”鍵選則平均值 MEAN、偏差 S.DEV 最大值 MAX、最小值 MIN 之一用于在線(xiàn)
統(tǒng)計(jì)值顯示。
e) 按“ESC”鍵退出設(shè)置。
2.2.12 操作一覽表
表 3-1 操作一覽表
鍵 名 功 能 備 注
ZERO 零點(diǎn)校準(zhǔn) 3.3.1
↑、↓ 數(shù)字調(diào)節(jié)、菜單選擇 2.2、3.3.2、3.4
MENU 進(jìn)入菜單操作 2.2
ESC 退出菜單操作 2.2
ON/OFF 開(kāi)、關(guān)機(jī) 2.1
*備注欄內(nèi)給出的標(biāo)號(hào)為本使用說(shuō)明書(shū)中講解本功能的章節(jié)。
2.2.13 關(guān)于測(cè)量和誤差的說(shuō)明
⊙ 如果已經(jīng)進(jìn)行了適當(dāng)?shù)男?zhǔn)，所有的測(cè)量值將保持在一定的誤差范圍內(nèi)(見(jiàn)附錄 1)；
⊙ 根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)的觀點(diǎn)，一次讀數(shù)是不可靠的。因此任何由 TT210 顯示的測(cè)量值都是五次“看不見(jiàn)”
的測(cè)量的平均值。這五次測(cè)量是在幾分之一秒的時(shí)間內(nèi)由測(cè)頭和儀器完成的；
⊙為使測(cè)量更加精確，可利用統(tǒng)計(jì)程序在一個(gè)點(diǎn)多次測(cè)量，對(duì)誤差較大的測(cè)量值可在測(cè)量后立即刪除。
最后覆層的厚度為：
CH = M+S+δ
其中: CH：覆層厚度
M：多次測(cè)量的平均值
S：標(biāo)準(zhǔn)偏差
δ：儀器允許誤差
3 儀器的校準(zhǔn)
為使測(cè)量準(zhǔn)確，應(yīng)在測(cè)量場(chǎng)所對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
10
3.1 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片（包括箔和基體）
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。簡(jiǎn)稱(chēng)標(biāo)準(zhǔn)片。
a) 校準(zhǔn)箔
對(duì)于磁性方法，“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對(duì)于渦流方法，通常采用
塑料箔。“箔”有利于曲面上的校準(zhǔn)，而且比用有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片更合適。
b) 有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片。對(duì)于磁性方法，覆蓋
層是非磁性的。對(duì)于渦流方法，覆蓋層是非導(dǎo)電的。
3.2 基體
a) 對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面
粗糙度相似。對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性，可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬與待測(cè)試件基體金屬上所測(cè)得的讀數(shù)進(jìn)行比較。
b) 如果待測(cè)試件的金屬基體厚度沒(méi)有超過(guò)表一中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn)：
1) 在與待測(cè)試件的金屬基體厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)；
2) 用一足夠厚度的，電學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標(biāo)準(zhǔn)片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之
間無(wú)間隙。對(duì)兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。
c) 如果待測(cè)覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn)，則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體
金屬的曲率，應(yīng)與試樣的曲率相同。
3.3 校準(zhǔn)方法
本儀器有三種測(cè)量中使用的校準(zhǔn)方法: 零點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)、在噴沙表面上校準(zhǔn)。二點(diǎn)校準(zhǔn)法又分一
試片法和二試片法。還有一種針對(duì)測(cè)頭的基本校準(zhǔn)。本儀器的校準(zhǔn)方法是非常簡(jiǎn)單的。
3.3.1 零點(diǎn)校準(zhǔn)
在基體上進(jìn)行一次測(cè)量，屏幕顯示＜×.×µm＞。
a) 按 ZERO 鍵，屏顯<0.0>。校準(zhǔn)已完成，可以開(kāi)始測(cè)量了。
b) 重復(fù)上述 a、b 步驟可獲得更為精確的零點(diǎn)，高測(cè)量精度。零點(diǎn)校準(zhǔn)完成后就可進(jìn)行測(cè)量了。
3.3.2 二點(diǎn)校準(zhǔn)
3.3.2.1 一試片法
這一校準(zhǔn)法適用于高精度測(cè)量及小工件、淬火鋼、合金鋼。
a) 先校零點(diǎn)（如上述）。
b) 在厚度大致等于預(yù)計(jì)的待測(cè)覆蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量，屏幕顯示＜×××µm＞。
c) 用“↓”或“↑”鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值。校準(zhǔn)已完成，可以開(kāi)始測(cè)量了。
11
注意:1.即使顯示結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)片值相符，按↑、↓鍵也是必不可少的，例如按一次↑一次↓。
這一點(diǎn)適用于所有校準(zhǔn)方法。
2. 如欲較準(zhǔn)確地進(jìn)行二點(diǎn)校準(zhǔn)，可重復(fù) b、c 過(guò)程，以提高校準(zhǔn)的精度，減少偶然誤差。
3.3.2.2 二試片法
兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)片厚度至少相差三倍。待測(cè)覆蓋層厚度應(yīng)該在兩個(gè)校準(zhǔn)值之間。這種方法尤其適用于粗糙的
噴沙表面和高精度測(cè)量。
a) 先校零值;
b) 在較薄的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量，用“↓”或“↑”鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)值;
c) 緊接著在厚的一個(gè)樣片上進(jìn)行一次測(cè)量，用“↓”或“↑”鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)
值。校準(zhǔn)已完成，可以開(kāi)始測(cè)量了。
3.3.2.3 在噴沙表面上校準(zhǔn)
噴沙表面的特性導(dǎo)致了測(cè)量值大大偏離真值，其覆蓋層厚度大致可用下面的方法確定。
方法一：
a) 儀器要用 3.3.1 或 3.3.2.1 的方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面校準(zhǔn)好。
b) 在未涂覆的經(jīng)過(guò)同樣噴沙處理的表面測(cè)量 10 次左右，得到平均值 Mo。
c) 然后，在已涂覆的表面上測(cè)量 10 次得到平均值 Mm。
d) （Mm—Mo）±S 即是覆蓋層厚度。
其中 S（標(biāo)準(zhǔn)偏差）是 SMm 和 SMo 中較大的一個(gè)。
方法二：
a) 用直接方式下的單次測(cè)量法測(cè)量。
b) 先用兩試片法校準(zhǔn)儀器。
c) 在試樣上測(cè)量 5～10 次。其平均值即是覆層厚度。
3.3.7.1 銅上鍍鉻層的校準(zhǔn)方法
適用于 N 型測(cè)頭，并使用特殊的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。
⊙必須使用一試片法。
⊙使用標(biāo)有“銅上鍍鉻” (CHROME ON COPPER) 字樣的特殊標(biāo)準(zhǔn)片。
說(shuō)明：在溫度變化極大的情況下，如冬季或盛夏在室外操作時(shí)，應(yīng)在與待測(cè)箔厚度接近的標(biāo)
準(zhǔn)片上進(jìn)行校準(zhǔn)。校準(zhǔn)時(shí)的環(huán)境溫度應(yīng)與使用時(shí)的環(huán)境溫度一致。
注意: 1. 出現(xiàn)下列情況，必需重新校準(zhǔn)。
____校準(zhǔn)時(shí)，輸入了一個(gè)錯(cuò)誤值
____操作錯(cuò)誤
2.在直接方式下，如果輸入了錯(cuò)誤的校準(zhǔn)值，應(yīng)緊接著做一次測(cè)量，隨后再做一次校準(zhǔn)，即可獲取新
值消除錯(cuò)誤值；
3. 每一組單元中，只能有一個(gè)校準(zhǔn)值。
4.零點(diǎn)校準(zhǔn)和二點(diǎn)校準(zhǔn)都可以重復(fù)多次，以獲得更為精確的校準(zhǔn)值，提高測(cè)量精度但此過(guò)程中一旦有
過(guò)一次測(cè)量，則校準(zhǔn)過(guò)程便告結(jié)束。
12
3.3.3 修改組中的校準(zhǔn)值
刪除組單元中的所有數(shù)據(jù)和校準(zhǔn)值之后才能重新校準(zhǔn)。否則將出現(xiàn)“錯(cuò)誤 20”的錯(cuò)誤代碼
和鳴響報(bào)警。
3.4 基本校準(zhǔn)的修正
在下述情況下，改變基本校準(zhǔn)是有必要的:
____測(cè)頭頂端被磨損。
____特殊的用途。
在測(cè)量中，如果誤差明顯地超出給定范圍，則應(yīng)對(duì)測(cè)頭的特性重新進(jìn)行校準(zhǔn)稱(chēng)為基本校準(zhǔn)。通過(guò)輸入 6
個(gè)校準(zhǔn)值(1 個(gè)零和 5 個(gè)厚度值)，可重新校準(zhǔn)測(cè)頭。
a) 在儀器關(guān)閉的狀態(tài)下按住“↑”鍵再按“ON/OFF”鍵，即進(jìn)入 F 型測(cè)頭基本校準(zhǔn)狀態(tài)；在儀器關(guān)閉的
狀態(tài)下按住“↓”鍵再按“ON/OFF”鍵，即進(jìn)入 N 型測(cè)頭基本校準(zhǔn)狀態(tài)；進(jìn)入基本校準(zhǔn)狀態(tài)
屏幕菜單區(qū)顯示“基本校準(zhǔn)”。
b) 先校零值。可連續(xù)重復(fù)進(jìn)行多次，以獲得一個(gè)多次校準(zhǔn)的平均值，這樣做可以提高校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性；
c) 使用標(biāo)準(zhǔn)片，按厚度增加的順序，一個(gè)厚度上可做多次。每個(gè)厚度應(yīng)至少是上一個(gè)厚度的 1.6 倍以
上，理想的情況是 2 倍。例如:50μm、100μm、200μm、400μm、800μm。最大值應(yīng)該接近但低于測(cè)
頭的最大測(cè)量范圍；
注意: 每個(gè)厚度應(yīng)至少是上一個(gè)厚度的 1.6 倍以上，否則視為基本校準(zhǔn)失敗。
d) 在輸入 6 個(gè)校準(zhǔn)值以后，測(cè)量一下零點(diǎn)，儀器自動(dòng)關(guān)閉，新的校準(zhǔn)值已存入儀器。當(dāng)再次開(kāi)機(jī)時(shí)，
儀器將按新的校準(zhǔn)值工作。
4 影響測(cè)量精度的因素
4.1 影響因素相關(guān)表
表 4-1 影響因素相關(guān)表
測(cè)量方法
影響因素
磁性方法 渦流方法
基體金屬磁性質(zhì) ▲
基體金屬電性質(zhì) ▲
基體金屬厚度 ▲ ▲
邊緣效應(yīng) ▲ ▲
曲率 ▲ ▲
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試樣的變形 ▲ ▲
表面粗糙度 ▲ ▲
磁場(chǎng) ▲
附著物質(zhì) ▲ ▲
測(cè)頭壓力 ▲ ▲
測(cè)頭取向 ▲ ▲
▲ ------ 表示有影響
4.2 影響因素的有關(guān)說(shuō)明
a) 基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為
了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦
可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
b) 基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件
基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
c) 基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器
的臨界厚度值見(jiàn)附表 1。
d) 邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
e) 曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面
上測(cè)量是不可靠的。
f) 試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上不能測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
g) 表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤
差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗
糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]
有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
g) 磁場(chǎng)
周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
h) 附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀
器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
i) 測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
j) 測(cè)頭的取向
14
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。
4.3 使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定
a) 基體金屬特性
對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對(duì)于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
b) 基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度，如果沒(méi)有，可采用 3.3)中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。
c) 邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
d) 曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。
e) 讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不完全相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部
差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。
f) 表面清潔度
測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
5 保養(yǎng)與維修
5.1 環(huán)境要求
嚴(yán)格避免碰撞、重塵、潮濕、強(qiáng)磁場(chǎng)、油污等。
5.2 更換電池
當(dāng)儀器出現(xiàn)低壓指示時(shí)，應(yīng)立即更換電池。方法如下：
a) 按“ON/OFF”鍵關(guān)機(jī)；
b) 打開(kāi)電池倉(cāng)蓋；
c) 取出電池，放入新電池，注意極性；
d) 蓋好電池倉(cāng)蓋。
儀器長(zhǎng)時(shí)間不使用時(shí)應(yīng)將電池取出，以避免電池漏液腐蝕儀器。
5.3 故障排除
下面的錯(cuò)誤信息表告訴您如何去識(shí)別和排除故障：
15
表 5-1
錯(cuò)誤信息表
錯(cuò)誤代號(hào) 錯(cuò)誤代號(hào)的含意 原因及解決辦法
錯(cuò)誤 2
錯(cuò)誤 2N
錯(cuò)誤 2F
測(cè)頭或儀器損壞
N 型測(cè)頭或儀器損壞
F 型測(cè)頭或儀器損壞
修理測(cè)頭或儀器
錯(cuò)誤 3
錯(cuò)誤 3N
錯(cuò)誤 3F
測(cè)頭或儀器損壞
N 型測(cè)頭或儀器損壞
F 型測(cè)頭或儀器損壞
修理測(cè)頭或儀器
錯(cuò)誤 4
錯(cuò)誤 4N
錯(cuò)誤 4F
測(cè)量值發(fā)生大的波動(dòng)(例如在軟覆蓋層
上測(cè)量時(shí))；磁場(chǎng)影響
在軟質(zhì)覆蓋層上測(cè)量時(shí)，應(yīng)采用輔
助裝置進(jìn)行測(cè)量；遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境
錯(cuò)誤 5N
錯(cuò)誤 5F
開(kāi)機(jī)時(shí)測(cè)頭離金屬基體太近
開(kāi)機(jī)時(shí)測(cè)頭離磁性金屬基體太近
關(guān)機(jī)，測(cè)頭遠(yuǎn)離基體后重新開(kāi)機(jī)
錯(cuò)誤 11
測(cè)頭型號(hào)與本組原有數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的測(cè)頭型
號(hào)不符
選擇合適的測(cè)頭
另選一個(gè)未使用的組單元
刪除后重新校準(zhǔn)
錯(cuò)誤 15 零值偏差太大，校零值不保存 選擇合適的基體或修理儀器
錯(cuò)誤 20 這個(gè)組單元中已有校準(zhǔn)值
另選一個(gè)未使用的分組單元
或刪除后重新校準(zhǔn)
如果未顯示錯(cuò)誤代碼而工作不正常，例如：
a) 儀器不能自動(dòng)關(guān)機(jī)；
b) 不能測(cè)量；
c) 鍵不工作；
d) 測(cè)量值反復(fù)無(wú)常。
出現(xiàn)這類(lèi)故障時(shí)，先取出電池使儀器關(guān)機(jī)，幾分鐘后再裝入電池，然后使儀器強(qiáng)制復(fù)位。
強(qiáng)制復(fù)位的方法是：
a.關(guān)機(jī)后，按住“ZERO”鍵，然后再按“ON/OFF”鍵，直到屏幕顯示“復(fù)位？”；
b.按“MENU”鍵，屏幕顯示“復(fù)位 TT210”進(jìn)行強(qiáng)制復(fù)位；
c.在顯示“復(fù)位？”狀態(tài),若要放棄強(qiáng)制復(fù)位，按除“MENU”鍵以外的其它任意鍵或等待幾秒后即可。
注意：執(zhí)行強(qiáng)制復(fù)位后，以前的基本校準(zhǔn)值、兩點(diǎn)校準(zhǔn)值、上下限界值已丟失，用戶(hù)須重新
進(jìn)行基本校準(zhǔn)（基本校準(zhǔn)方法見(jiàn) 3.4)。
當(dāng)用戶(hù)通過(guò)上述方法仍不能排除故障時(shí)，請(qǐng)用戶(hù)不要拆機(jī)自修。填妥保修卡后，請(qǐng)將儀器交我
公司維修部門(mén)，執(zhí)行保修條例。
如果能將出現(xiàn)錯(cuò)誤的情況簡(jiǎn)單描述一下，一同寄出，我們將會(huì)非常感謝您。
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6 用戶(hù)須知
一、用戶(hù)購(gòu)買(mǎi)本公司產(chǎn)品后，請(qǐng)認(rèn)真填寫(xiě)《保修登記卡》并請(qǐng)加蓋用戶(hù)單位公章。請(qǐng)將（一）聯(lián)和購(gòu)
機(jī)發(fā)票復(fù)印件寄回本公司用戶(hù)服務(wù)部，也可購(gòu)機(jī)時(shí)委托售機(jī)單位代寄。（二）聯(lián)寄（留）當(dāng)?shù)胤止?BR>維修站辦理登記手續(xù)。無(wú)維修站地區(qū)請(qǐng)用戶(hù)將（一）、（二）聯(lián)寄回本公司用戶(hù)服務(wù)部。手續(xù)不全時(shí)，
只能維修不予保修。
二、本公司產(chǎn)品從用戶(hù)購(gòu)置之日起，一年內(nèi)出現(xiàn)質(zhì)量故障（非保修件除外），請(qǐng)憑“保修卡”（用戶(hù)留
存聯(lián)）或購(gòu)機(jī)發(fā)票復(fù)印件與本公司各地的分公司維修站聯(lián)系，維修產(chǎn)品、更換或退貨。保修期內(nèi)，不
能出示保修卡或購(gòu)機(jī)發(fā)票復(fù)印件，本公司按出廠日期計(jì)算保修期，期限為一年。
三、超過(guò)保修期的本公司產(chǎn)品出現(xiàn)故障，按本公司規(guī)定核收維修費(fèi)。
四、公司定型產(chǎn)品外的“特殊配置”，按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)收取費(fèi)用。
五、凡因用戶(hù)自行拆裝本公司產(chǎn)品、因運(yùn)輸、保管不當(dāng)或未按“產(chǎn)品使用說(shuō)明書(shū)”正確操作造成產(chǎn)品損
壞，以及私自涂改保修卡，無(wú)購(gòu)貨憑證，本公司均不能予以保修。
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7 附表
附表 1 技術(shù)參數(shù)表
測(cè)頭類(lèi)型 F N
工作原理 磁 感 應(yīng) 渦 流
測(cè)量范圍(µm) 0～1250
0～1250
銅上鍍鉻(0～40)
低限分辨力(µm) 0.1 0.1
一點(diǎn)校準(zhǔn)(µm) ±(3%H+1) ±(3%H+1.5)
示
值
二點(diǎn)校準(zhǔn)(µm) ±[(1～3)%H+1] ±[(1～3)%H+1.5]
最小曲率半徑(mm) 凸 1.5 凸 3
最小面積的直徑(mm) Φ7 Φ5
測(cè)
試
條
件
基體臨界厚度(mm) 0.5 0.3
注：H——標(biāo)稱(chēng)值
附表 2 測(cè)頭選用參考表
覆蓋層
基體
有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如:漆
料、涂漆、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處
理等)
非磁性的有色金屬覆蓋層(如:
鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)
如鐵、鋼等磁性金屬
F 型測(cè)頭
測(cè)量范圍：0µm～1250µm
F 型測(cè)頭
測(cè)量范圍：0µm～1250µm
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等
有色金屬
N 型測(cè)頭
測(cè)量范圍：0µm～1250µm
N 型測(cè)頭 僅用于銅上鍍鉻
測(cè)量范圍：0µm～40µm
菜單功能表：
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MENU
MENU MENU
MENU
MENU
MENU
MENU
MENU
MENU
MENU
-平均值
- 統(tǒng)計(jì)值 1/6 -標(biāo)準(zhǔn)偏差
-測(cè)試次數(shù)
-最大值
-最小值
- 選項(xiàng) 2/6 -測(cè)量方式 1/6 -單次測(cè)量
- 連續(xù)測(cè)量
-工作方式 2/6
-
-
- 選擇測(cè)頭 3/6 -磁性
- 非磁性
-自動(dòng)
- 單位 (μm/ mils)4/6
-背光： 開(kāi)/關(guān) 5/6 （打開(kāi)背光/關(guān)閉背光）
-在線(xiàn)統(tǒng)計(jì)值 6/6 -平均值 Mean
-偏差 S.dev
- 最大值 Max
- 最小值 Min
-限界 3/6 - 設(shè)置限界 1/2 設(shè)置上限
- 設(shè)置下限
-設(shè)置限界 2/2
-刪除 4/6 -當(dāng)前數(shù)據(jù) 1/3 (刪除當(dāng)前工作方式下的最后一個(gè)測(cè)量值）
- 當(dāng)前組數(shù)據(jù) 2/3（刪除當(dāng)前工作方式下的所有測(cè)量值）
-所有數(shù)據(jù) 3/3（刪除所有數(shù)據(jù):測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、校準(zhǔn)值）
-打印 5/6 -打印測(cè)量值 1/5（打印當(dāng)前工作方式下的測(cè)量值）
- 打印統(tǒng)計(jì)值 2/5（打印當(dāng)前工作方式下的統(tǒng)計(jì)值）
↑、↓
↑、↓
MENU
↑、↓
直接方式
成組方式 1
成組方式 2
成組方式 3
成組方式 4
成組方式 5
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MENU
-打印所有值 3/5（打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界值、直方圖）
-開(kāi)在線(xiàn)打印 4/5（打開(kāi)在線(xiàn)打�。�
-關(guān)在線(xiàn)打印 5/5（關(guān)閉在線(xiàn)打�。�
顯示測(cè)量值 6/6
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| | | | 【關(guān)閉】 | |
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主導(dǎo)產(chǎn)品：圓柱度儀 圓度儀 輪廓儀 粗糙度儀 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 便攜式關(guān)節(jié)臂 刀具預(yù)調(diào)儀 測(cè)量投影儀 影像測(cè)量?jī)x 顯微鏡 萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī) 彈簧試驗(yàn)機(jī) 硬度計(jì) 測(cè)厚儀
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